研究業績（2003年）

オリジナル論文

• Y. Takakuwa, F. Ishida, T. Kawawa
  Phase transition from Langmuir-type adsorption to two-dimensional oxide island growth during oxidation on Si(001) surface
  Applied Surface Science, 216, 133-140 (2003).
  
• Y. Takakuwa, S. Ishida, A. Yoshigoe, Y. Teraoka, Y. Yamauchi, Y. Mizuno, H. Tonda, T. Homma
  Real-time monitoring of oxidation on the Ti(0001) surface by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy and RHEED-AES
  Applied Surface Science, 216, 395-401 (2003).
  
• C. Kanai, K. Watanabe, Y. Takakuwa
  Ab initio study on the electronic states of hydrogen defects in diamond subsurface
  Japanese Journal of Applied Physics, 42, 3510-3513 (2003).
  
• Y. Takakuwa, S. Ishidzuka, A. Yoshigoe, Y. Teraoka, Y. Mizuno, H. Tonda, T. Homma
  In-situ observation of oxidation on the Ti(0001) surface by real-time photoelectron spectroscopy using synchrotron radiation (リアルタイム光電子分光によるTi(0001)表面酸化反応の「その場」観察)
  Journal of the Surface Science Society of Japan, 24, 500-508 (2003).
  
• Y. Takakuwa, S. Ishidzuka, A. Yoshigoe, Y. Teraoka, Y. Mizuno, H. Tonda, T. Homma
  Time-resolved photoelectron spectroscopy of oxidation on the Ti(0001) surface
  Nuclear Instruments and Methods in Physics Research: Section B, 200, 376-381 (2003).
  

総説・解説

• 高桑雄二，石塚眞治，吉越章隆，寺岡有殿 (Y. Takakuwa, S. Ishidzuka, A. Yoshigoe,Y. Teraoka)
  リアルタイム光電子分光による極薄チタニウム酸化膜形成過程の「その場」観察 (Growth kinetics of very thin oxide on Ti(0001) surface studied by real-time photoelectron spectroscopy)
  化学工業 (Chemical Industry), 54, 687-692 (2003)
  

国内会議抄録

• 小川修一，吉越章隆，石塚眞治，寺岡有殿，高桑雄二
  Si(001)表面での極薄酸化膜形成・分解過程のRHEED-AES/STMによる「その場」観察
  応用物理学会薄膜・表面分科会、「極薄シリコン酸化膜の形成・評価・信頼性」第9回研究会, （平成16年1月23-24日、熱川ハイツ、伊豆） 301-306.

学会発表

国内学会

• 高桑雄二
  極薄シリコン酸化膜形成過程のリアルタイムRHEED-AES観察
  平成14年度表面科学会東北支部講演会, 日本, 米沢 (2003.3.6-2003.3.7).
  
• 高桑雄二
  リアルタイム光電子分光による極薄チタニウム酸化膜形成過程の「その場」観察
  文部科学省　ナノテクノロジー総合支援プロジェクト　平成14年度放射光グループ研究成果報告会「放射光利用　ナノテク最前線」, 日本, 大阪 (2003.6.16).
  
• 高桑雄二
  真空と表面計測
  平成15年度東北大学教室系技術職員研修 (専門研修), 日本, 仙台 (2003.10.9).
  
• 高桑雄二
  大面積ダイヤモンド薄膜の光合成プロセス技術
  ISS産業科学システムズ・特別セミナー, 日本, 東京 (2003.12.18).
  
• 高桑雄二
  Ti表面初期酸化：ナノ構造光触媒への応用
  PF研究会「ナノテクノロジーと高分解能電子分光」, 日本, つくば (2003.12.19-2003.12.20).
  

• 小川修一，川和拓央，高桑雄二
  Si(001)表面酸化におけるSi原子放出のRHEED-AES観察
  第2回多元物質科学研究所研究発表会, 日本, 仙台 (2003.1.15).
  
• 高桑雄二，小川修一，川和拓央
  Si(001)表面初期酸化におけるSi原子放出の実験的検証
  応用物理学会薄膜・表面分科会、第8回「極薄シリコン酸化膜の形成・評価・信頼性」研究会, 日本, 熱川 (2003.1.24-2003.1.25).
  
• 石塚眞治， 高桑雄二，吉越章隆，寺岡有殿，水野善之，頓田英樹，本間禎一
  Ti(0001)表面初期窒化過程のリアルタイムモニタリング光電子分光
  平成14年度表面科学会東北支部講演会, 日本, 米沢 (2003.3.6-2003.3.7).
  
• 小川修一，八木貴之，高桑雄二
  リアルタイム光電子分光によるSi(001)表面初期酸化過程の「その場」観察
  平成14年度表面科学会東北支部講演会, 日本, 米沢 (2003.3.6-2003.3.7).
  
• 小川修一，川和拓央，高桑雄二
  Si(001)表面初期酸化におけるSi原子放出過程
  第50回応用物理学関係連合講演会, 日本, 横浜 (2003.3.27-2003.3.30).
  
• 小川修一，高桑雄二
  RHEED-AESによるSi表面酸化におけるSi原子放出の「その場」観察
  第19回化学反応討論会, 日本, 仙台 (2003.6.11-2003.6.13).
  
• 高桑雄二，石塚眞治，吉越章隆，寺岡有殿，水野善之，頓田英樹，本間禎一
  高輝度放射光光電子分光によるTi(0001)表面酸化反応の「その場」観察
  第19回化学反応討論会, 日本, 仙台 (2003.6.11-2003.6.13).
  
• 小川修一，高桑雄二
  Si(001)表面初期酸化におけるSi原子放出過程(II)
  2003年秋季　第64回応用物理学会学術講演会, 日本, 博多 (2003.8.30-2003.9.2).
  
• 高桑雄二，石塚眞治，吉越章隆，寺岡有殿，盛谷浩右，小川修一，水野善之，頓田英樹，本間禎一
  Ti(0001)表面での極薄酸化膜形成における酸化状態の「その場」観察
  2003年秋季　第64回応用物理学会学術講演会, 日本, 博多 (2003.8.30-2003.9.2).
  
• 高桑雄二，石塚眞治，吉越章隆，寺岡有殿，盛谷浩右，小川修一，水野善之，頓田英樹，本間禎一
  Ti(0001)表面酸化への酸素分子並進運動エネルギーの効果
  2003年秋季　第64回応用物理学会学術講演会, 日本, 博多 (2003.8.30-2003.9.2).
  
• 高桑雄二，小川修一
  Si(001)表面での初期酸化過程への2x1/1x2分域比の影響
  日本物理学会2003年秋季大会, 日本, 岡山 (2003.9.20-2003.9.23).
  
• 高桑雄二，石塚眞治，吉越章隆，寺岡有殿，盛谷浩右，小川修一，水野善之，頓田英樹，本間禎一
  Ti(0001)表面酸化における極薄酸化膜形成過程のリアルタイム計測
  日本物理学会2003年秋季大会, 日本, 岡山 (2003.9.20-2003.9.23).
  
• 小川修一，高桑雄二
  Si(001)とSi(111)表面の極薄酸化膜形成過程の比較
  第44回真空に関する連合講演会, 日本, 東京 (2003.11.12-2003.11.14).
  
• 高桑雄二，石塚眞治，吉越章隆，寺岡有殿，盛谷浩右，小川修一，水野善之，頓田英樹，本間禎一
  Ti(0001)表面酸化における極薄酸化膜成長と酸化状態
  第44回真空に関する連合講演会, 日本, 東京 (2003.11.12-2003.11.14).
  
• 小川修一，吉越章隆，石塚眞治，寺岡有殿，高桑雄二
  Si(001)表面での極薄酸化膜形成・分解過程におけるSi原子の挙動
  第23回表面科学講演大会, 日本, 東京 (2003.11.26-2003.11.28).
  
• 小川修一，高桑雄二，石塚眞治，吉越章隆，寺岡有殿，盛谷浩右，鉢上隼介，水野善之，頓田英樹，本間禎一
  超音速酸素分子ビームによるTi(0001)表面の運動エネルギー誘起酸化反応
  第23回表面科学講演大会, 日本, 東京 (2003.11.26-2003.11.28).
  

国際会議

• Y. Takakuwa, S. Ishidzuka, A. Yoshigoe, Y. Teraoka, K. Moritani, S. Ogawa, Y. Mizuno, H. Tonda, T. Homma
  Real-time monitoring of oxygen uptake and chemical composition during oxidation on Ti(0001) surface
  7th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures, 日本, 奈良 (2003.11.16-2003.11.20).