東北大学多元研 高桑研究室 本文へジャンプ

研究業績(2004年)


オリジナル論文

  • S. Ogawa, Y. Takakuwa
    Comparison of the initial oxidation kinetics between Si(001) and Si(111) surfaces
    The Journal of the Vacuum Society of Japan, 47, 235-238 (2004).
  • Y. Takakuwa, S. Ishidzuka, A. Yoshigoe, Y. Teraoka, K. Moritani, S. Ogawa, Y. Mizuno, H. Tonda, T. Homma
    Oxidation State during Growth of Very Thin Oxide on Ti(0001) Surface
    The Journal of the Vacuum Society of Japan, 47, 457-461 (2004).



著書


  • 高桑雄二
    放射光照射を用いるプロセスの研究
    渡辺誠、佐藤繁編:“放射光科学入門”(共著) (東北大学出版会, 2004) 191-199.


国内会議抄録


  • 小川修一,高桑雄二
    リアルタイムRHEED-AESによるSi(001)表面層状酸化の律速反応の解明
    応用物理学会薄膜・表面分科会、「ゲートスタック研究会 –材料・プロセス・評価の物理-」第10回研究会 (平成17年1月28-29日、東レ総合研修センター、三島) 297-302.


学会発表


国内学会


招待
  • 高桑雄二
    表面局所プラズマを用いた基板表面処理技術の開発 -ダイヤモンド気相合成の技術革新を例として-
    川鉄テクノリサーチ講演会, 日本, 東京 (2004.6.15).
  • 小川修一,高桑雄二
    熱酸化プロセスによる極薄シリコン酸化膜形成機構の研究
    NTTセミナー, 日本, 厚木 (2004.12.22).
一般
  • 小川修一,吉越章隆,石塚眞治,寺岡有殿,高桑雄二
    Si(001)表面での極薄酸化膜形成・分解過程のRHEED-AES/STMによる「その場」観察
    応用物理学会薄膜・表面分科会、第9回「極薄シリコン酸化膜の形成・評価・信頼性」研究会, 日本, 伊豆熱川 (2004.1.23-2004.1.24).
  • 八木貴之,高桑雄二
    高温ダイヤモンド表面からの二次電子放出機構
    平成15年度日本表面科学会東北支部講演会, 日本, 仙台 (2004.3.4-2004.3.5).
  • 小川修一,吉越章隆,石塚眞治,寺岡有殿,高桑雄二
    Si(001)表面初期酸化におけるSi原子放出過程 (III):界面反応
    第51回応用物理学関係連合講演会, 日本, 八王子 (2004.3.28-2004.3.31).
  • 高桑雄二,小川修一,吉越章隆,石塚眞治,寺岡有殿
    Si(001)表面初期酸化におけるSi原子放出過程 (IV):酸化様式への依存
    第51回応用物理学関係連合講演会, 日本, 八王子 (2004.3.28-2004.3.31).
  • 高桑雄二,小川修一,石塚眞治,吉越章隆,寺岡有殿,盛谷浩右,鉢上隼介,水野善之,頓田英樹,本間禎一
    Ti(0001)表面に形成した極薄酸化膜の分解過程
    第51回応用物理学関係連合講演会, 日本, 八王子 (2004.3.28-2004.3.31).
  • 小川修一,高桑雄二,石塚眞治,吉越章隆,寺岡有殿,盛谷浩右,鉢上隼介,水野善之,頓田英樹,本間禎一
    Ti(0001)表面初期酸化過程の酸素分子並進運動エネルギー依存
    第51回応用物理学関係連合講演会, 日本, 八王子 (2004.3.28-2004.3.31).
  • 高桑雄二,小川修一,石塚眞治,吉越章隆,寺岡有殿,盛谷浩右,鉢上隼介,水野善之,頓田英樹,本間禎一
    酸素分子並進運動エネルギー制御によるTi酸化膜形成過程のリアルタイム光電子分光観察
    文部科学省 ナノテクノロジー総合支援プロジェクト 平成15年度 放射光グループ研究成果報告会「放射光利用 ナノテク最前線 2004」, 日本, 東京 (2004.6.21).
  • 小川修一,高桑雄二
    Si(001)表面初期酸化におけるSi原子放出過程(V):界面の酸化・分解の律速反応
    2004年秋季第65回応用物理学会学術講演会, 日本, 仙台 (2004.9.1-2004.9.4).
  • 小川修一,高桑雄二
    Si(001)表面初期酸化におけるSi原子放出過程(VI):分解における吸着Si原子との競合
    2004年秋季第65回応用物理学会学術講演会, 日本, 仙台 (2004.9.1-2004.9.4).
  • 小川修一,高桑雄二,石塚眞治,吉越章隆,寺岡有殿,盛谷浩右,鉢上隼介,水野善之,頓田英樹,本間禎一
    Ti(0001)表面酸化過程の酸素分子並進運動エネルギー依存(II):酸化状態
    2004年秋季第65回応用物理学会学術講演会, 日本, 仙台 (2004.9.1-2004.9.4).
  • 小川修一,高桑雄二
    Si(001)表面酸化様式に依存した極薄酸化膜分解過程の「その場」観察
    日本物理学会2004年秋季大会, 日本, 青森 (2004.9.12-2004.9.15).
  • 高桑雄二,小川修一,石塚眞治,吉越章隆,寺岡有殿,盛谷浩右,鉢上隼介,水野善之,頓田英樹,本間禎一
    極薄Ti酸化膜の分解過程のリアルタイム光電子分光観察
    日本物理学会2004年秋季大会, 日本, 青森 (2004.9.12-2004.9.15).
  • 高桑雄二,八木貴之
    水素ラジカル照射下のダイヤモンドC(001)表面からの二次電子放出過程の温度依存
    日本物理学会2004年秋季大会, 日本, 青森 (2004.9.12-2004.9.15).
  • 小川修一,大平雅之,高桑雄二
    Si(111)表面における極薄酸化膜形成過程の温度依存
    第45回真空に関する連合講演会, 日本, 大阪 (2004.10.27-2004.10.29).
  • 八木貴之,高桑雄二
    水素終端ダイヤモンドC(001)表面からの電子放出過程の温度依存
    第45回真空に関する連合講演会, 日本, 大阪 (2004.10.27-2004.10.29).
  • 小川修一,八木貴之,大平雅之,高桑雄二
    Si(001)表面酸化過程における仕事関数の「その場」観察
    第24回表面科学講演大会, 日本, 東京 (2004.11.8-2004.11.10).
  • 大平雅之,小川修一,高桑雄二,石塚眞治,盛谷浩右,吉越章隆,寺岡有殿,水野善之,頓田英機,本間禎一
    超音速酸素分子ビームによるTi表面酸化反応ダイナミクス
    第59回応用物理学会東北支部学術講演会 (2004.12.9-2004.12.10).

国際会議


一般
  • S. Ogawa, Y. Takakuwa
    Rate-limiting reaction of growth and decomposition of very thin oxide on Si(001) surface
    2004 International Workshop on Dielectric Thin Films for Future ULSI Devices: Science and Technology, 日本, 東京 (2004.5.26-2004.5.28).
  • T. Yagi, Y. Takakuwa
    Emission of secondary electrons from diamond (001) surfaces heated at high temperatures under hydrogen radical irradiation
    12th International Conference on Solid Films and Surfaces (ICSFS-12), 日本, 浜松 (2004.6.21-2004.6.25).
  • S. Ogawa, Y. Takakuwa, S. Ishidzuka, A. Yoshigoe, Y. Teraoka, K. Moritani, S. Hachiue, Y. Mizuno, H. Tonda, T. Homma
    Progress of stoichiometry of very thin oxides on Ti (0001) surfaces monitored by real-time photoelectron spectroscopy
    12th International Conference on Solid Films and Surfaces (ICSFS-12), 日本, 浜松 (2004.6.21-2004.6.25).
  • S. Ogawa, Y. Takakuwa
    Substrate orientation dependence of first- and second-oxide-layer growth kinetics: comparison between Si(001)2×1 and Si(111)7×7 surfaces
    2004 International Microprocess and nanotechnology Conference, 日本, 大阪 (2004.10.26-2004.10.29).